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一种基于结构光的3D量测方法与系统
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专利号
2021111143901
专利类型
发明
申请日
2021-09-23 00:00:00
公开日
2022-01-14 00:00:00
法律状态
有效
国家/地区
中国
IPC分类号
G01B11/25
技术领域
G-物理
申请人/权利人
华中科技大学
摘要
本发明公开了一种基于结构光的3D量测方法与系统，其方法包括：构建N幅编码图像，编码图像中同一横坐标的条纹光强值相同，N幅编码图像在横坐标xm处的N个光强值组成N维参考向量，每个N维参考向量能确定一个唯一的横坐标xm；用N幅编码图像投影物体获得N幅投影图像；N幅投影图像在像素坐标(xn，yn)处的N个光强值组成N维投影向量；选出与N维投影向量最接近的N维参考向量，获取与N维参考向量对应的横坐标xm，