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针对任意形状有损耗介质充电电位数值模拟方法、系统、终端
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专利号
2021104974578
专利类型
发明
申请日
2021-05-08 00:00:00
公开日
2021-08-06 00:00:00
法律状态
有效
国家/地区
中国
IPC分类号
G06F30/23
技术领域
G-物理
申请人/权利人
桂林理工大学
摘要
本发明属于工程、水文及环境地球物理勘探技术领域，公开了一种针对任意形状有损耗介质充电电位数值模拟方法、系统、终端，包括任意形状有损耗介质区域剖分、充电电流强度系数求解及有损耗介质充电电位积分计算。采用单位体积网格剖分，将充电三维区域离散为多个单位体积网格；建立充电电流强度传输方程组，获取剖分单位在总充电电流强度条件下的充电电流强度系数；以剖分单位体积作为单元点源，计算所有剖分网格单位点源的充电电位