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基于极线采样的投影仪对应点高精度匹配方法及其应用
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专利号
202110326309X
专利类型
发明
申请日
2021-03-26 00:00:00
公开日
2021-07-06 00:00:00
法律状态
有效
国家/地区
中国
IPC分类号
G01B11/24
技术领域
G-物理
申请人/权利人
华中科技大学
摘要
本发明公开了一种基于极线采样的投影仪对应点高精度匹配方法及其应用，其通过对结构光组成相机与投影仪的内、外参数与畸变模型进行预先标定；在对应点匹配过程中，针对任意一个去畸变后的相机像素点与其测量相位值，对因畸变发生变形的投影仪极线进行采样、拟合，得到其对应在投影仪成像面上的弯曲极线方程；再利用测量相位值在投影仪成像面上构造等相位线，并计算其与弯曲极线的交点，最终得到与相机像素点相对应的高精度投影仪畸