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一种基于毫米波极化辐射测量的目标分类方法及系统
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专利号
2020104041190
专利类型
发明
申请日
2020-05-13 00:00:00
公开日
2020-08-14 00:00:00
法律状态
有效
国家/地区
中国
IPC分类号
G06K9/62
技术领域
G-物理
申请人/权利人
华中科技大学
摘要
本发明公开了一种基于毫米波极化辐射测量的目标分类方法及系统，对N个目标分别测量其水平极化亮温、垂直极化亮温、物理温度，记录入射角，共获取N组数据，对于N组数据，分别计算其等效介电常数，对等效介电常数进行聚类，聚类结果即是N个目标的分类结果。本方法解决了当前技术中单纯依靠目标亮温进行分类的不足，提高利用毫米波辐射测量技术对被观测场景中的各类目标进行检测和识别的能力。