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一种物体成分均匀性的测定装置和测定方法
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专利号
2020113721297
专利类型
发明
申请日
2020-11-30 00:00:00
公开日
2021-03-26 00:00:00
法律状态
有效
国家/地区
中国
IPC分类号
G01N21/41
技术领域
G-物理
申请人/权利人
华中科技大学
摘要
本发明公开一种物体成分均匀性的测定装置，属于光学与晶体学领域，其包括激光源、扩束镜、波片、聚焦物镜、棱镜、载物台组件、位移平台、偏光显微镜、带通滤波片、物镜和滤光镜筒，扩束镜设置在激光光源的出射方向上，聚焦物镜设置在扩束镜出射光方向上，波片设置在扩束镜和聚焦物镜之间，棱镜设置在聚焦物镜出射光方向上，棱镜的底面用于设置待测样品，棱镜的顶面上悬置有偏光显微镜，聚焦物镜出射光对准棱镜的一个侧面，物镜镜头