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基于磁纳米粒子磁化响应的线粒体温度测量方法及系统
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专利号
2021113948568
专利类型
发明
申请日
2021-11-23 00:00:00
公开日
2022-03-11 00:00:00
法律状态
有效
国家/地区
中国
IPC分类号
G01K7/36
技术领域
G-物理
申请人/权利人
华中科技大学
摘要
本发明公开了一种基于磁纳米粒子磁化响应的线粒体温度测量方法及系统,属于纳米尺寸目标的温度测量领域,包括:(S1)将具有靶向到线粒体的磁纳米粒子作为探针,对细胞内的线粒体进行标记,得到待测样品;(S2)将待测样品放置于温度恒定且施加有交流磁场的待测区域中,并刺激线粒体使其工作;交流磁场由频率为f1和f2的磁场混合而成,f1≠f2;(S3)检测待测样品的交流磁化响应,并进行频谱分析,以提取各特征频率处
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