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一种混杂颗粒系粒径分布反演方法与系统
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专利号
2022110381305
专利类型
发明
申请日
2022-08-29 00:00:00
公开日
2022-09-30 00:00:00
法律状态
有效
国家/地区
中国
IPC分类号
G01N15/02
技术领域
G-物理
申请人/权利人
华中科技大学
摘要
本发明公开了一种混杂颗粒系粒径分布反演方法与系统，属于光散射微小颗粒检测领域。包括：根据若干散射角度测量到的未知粒径分布的待测样品的光强自相关函数，通过累积量法计算在若干散射角度下待测样品的平均粒径，接着将该平均粒径输入至采用最优平滑因子训练好的混杂颗粒系粒径分布反演回归网络，最终得到待测样品的粒径分布曲线，所述最优平滑因子根据标定的动态光散射系统的噪声水平，评价并比较混杂颗粒系粒径分布反演回归网