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一种磁导率测量方法与装置
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专利号
2021114895712
专利类型
发明
申请日
2021-12-08 00:00:00
公开日
2022-03-22 00:00:00
法律状态
有效
国家/地区
中国
IPC分类号
G01R33/12
技术领域
G-物理
申请人/权利人
华中科技大学
摘要
本发明公开了一种磁导率测量方法与装置，属于电磁场和测量领域。方法包括：步骤1、理论计算磁力与磁导率之间的映射关系；步骤2、测量永磁体和待测材料之间的磁力；步骤3、基于磁力与磁导率之间的映射关系以及步骤2中测得的磁力，得到待测材料的磁导率。装置包括：无底中空腔体的装置限位器，磁力传感器设置在所述装置限位器内部顶端；所述永磁体设置在磁力传感器上；所述信号处理模块与所述磁力传感器电连接，用于接收磁力传感