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一种工件表面粗糙度测量装置
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专利号
2022225775786
专利类型
实用新型
申请日
2022-09-28 00:00:00
公开日
2023-04-25 00:00:00
法律状态
有效
国家/地区
中国
IPC分类号
G01B11/30
技术领域
G-物理
申请人/权利人
桂林理工大学
摘要
本实用新型涉及计算机三维测量领域,公开了一种工件表面粗糙度测量装置,包括横板,所述横板的上侧中间设置有结构光组件,所述横板的两侧安装有图像采集机构,所述横板的两侧壁设置有驱动两个图像采集机构沿着横板下侧滑动的调节机构,所述横板的两侧下部设置有调节横板高度的升降机构,所述图像采集机构包括安装在横板下侧的且下部开口的相机箱,所述相机箱的内侧设置有与开口配合的双目相机,本实用新型采用双目结构光技术,直接
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