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基于F-P干涉仪透射式正交偏振相位显微成像装置
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专利号
201911091980X
专利类型
发明
申请日
2019-11-08
公开日
2023-07-21
法律状态
有效
国家/地区
中国
IPC分类号
G01N21/45
技术领域
G-物理
申请人/权利人
桂林电子科技大学
摘要
本发明提供的是一种基于F‑P干涉仪腔内增强型透射式正交偏振相位显微成像装置。其特征是：它由激光光源1、光衰减系统2、激光扩束系统3、F‑P干涉仪4、PBS偏振分光棱镜5、显微物镜6和8、探测相机7和9、计算机10组成。本发明可用于微小物体的数字全息测量，可广泛用于各种物体内部的折射率三维显微成像领域。